SP203P: Stahlqualität im SWIR-Bereich kosteneffizient messen

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Yoni Groisman

Application Engineer

Die Welt der Photonik erweitert sich kontinuierlich. Parallel dazu gilt es, effiziente und zuverlässige Messlösungen zu entwickeln. Eine Innovation können wir jetzt präsentieren: die SP203P, eine mit Phosphor beschichtete Strahlprofilkamera. Diese Kamera wurde entwickelt, um Lichtquellen im SWIR (Short Wavelength Infrared – kurzwelligen Infrarot)-Bereich kosteneffizient zu messen, die insbesondere in der industriellen Bildverarbeitung und der Telekommunikation benötigt werden.

SWIR-Emittern: Vielseitige Anwendung

SWIR-Emitter, insbesondere solche, die bei 1550nm arbeiten, spielen eine entscheidende Rolle in verschiedensten Bereichen. Im industriellen Umfeld sind Machine Vision und Machine Inspection beim Sortieren und in der Qualitätskontrolle zentrale Anwendungen. Aber auch in der Telekommunikation und Fernerkundung schätzen Entwickler die Vielseitigkeit der SWIR-Technologie. Ihre geringe Absorption in optischen Fasern macht sie ideal für die Kommunikation über weite Entfernungen. Die Fähigkeit, Nebel zu durchdringen, macht sie in Kombination mit höherer Auflösung und stärkerem Kontrast in LIDAR-Systemen für autonome Fahrzeuge unverzichtbar.

Messungen sind entscheidend

Die weitverbreitete Verwendung von SWIR-Emittern bringt jedoch ihre eigenen Herausforderungen mit sich. Häufig werden die Systeme unter harschen industriellen Bedingungen eingesetzt und in verschiedene Systeme integriert. Gleichzeitig müssen  Strahlqualität, Homogenität und Leistungsverteilung der Emitter regelmäßig überprüft werden. Erkennt man Qualitätsverluste bei den Sensormessungen – durch interne Faktoren oder Verunreinigungen – zu spät, kann das das kostspielige Folgen haben.

Vorstellung des SP203P: Eine praktische Lösung für Techniker im Außendienst

Traditionell galten Strahlprofilkameras basierend auf InGaAs-Sensoren als bevorzugte Lösung zur Messung der Strahlqualität im SWIR-Bereich. Aufgrund höherer Anschaffungskosten und der strengen regulatorischen Anforderungen sind sie jedoch im Außendienst oft unpraktisch. Diese Lücke schließt MKS mit der Ophir SP203P Strahlprofilkamera.

Wie arbeitet die Strahlprofilkamera?

Die SP203P nutzt einen Standard CMOS-Sensor, der mit Phosphor beschichtet ist. Das kurzwellige Infrarot-Licht wird von der Phosphorbeschichtung absorbiert und anschließend im sichtbaren Bereich zum CMOS-Sensor emittiert. Obgleich die SP203P nicht die Spitzenpräzision der SWIR-Kameras erreicht, bietet sie dennoch eine praktische und kosteneffiziente Lösung um SWIR-Emitter unter realen Anwendungsbedingungen zu bewerten.

BeamGage Bild des Strahlprofils eines 1550nm Lasers

Fazit: Praktische Lösung für Techniker

Die Ophir SP203P von MKS stellt einen bedeutenden Fortschritt in der SWIR-Messung dar. Sie bietet eine praktische Alternative zu höherpreisigen SWIR-Kameras und ermöglicht es Technikern im Außendienst, SWIR-Emitter unter realen Bedingungen effektiv zu bewerten. Leistung und Zuverlässigkeit der Systeme in einer Vielzahl von Anwendungen lassen sich damit sicherstellen. Das praktische Design und das hervorragende Preis-Leistungsverhältnis machen die SP203P zu einem unverzichtbaren Werkzeug für innovative Branchen in der Photonik.

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Yoni Groisman

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