Additive Fertigung wird heute in zahlreichen industriellen Anwendungen genutzt. Anders als in der Fertigung von Prototypen sind die Qualität und die Wiederholbarkeit innerhalb des AM-Prozesses deshalb von entscheidender Bedeutung.
Ein zentraler Faktor für die Qualität des fertigen AM-Produkts ist der Zustand der Laser und der verwendeten optischen Komponenten. Um den korrekten Betrieb des Systems zu gewährleisten, die Systemperformance zu optimieren und eventuelle Qualitätsprobleme zu vermeiden, müssen sowohl die Laser als auch die optischen Systeme regelmäßig überprüft werden – insbesondere im industriellen Umfeld.
Zu den häufigsten Fehlerursachen zählen die Alterung des Lasers über die Zeit, die Veränderung des Strahlprofils aufgrund einer Verunreinigung der optischen Komponenten und der Effekt der Thermischen Linse, die zu einer Fokusverschiebung oder einen Fokusaufweitung führt. Alle diese Parameter können eine Verschmelzung der Pulverpartikel verhindern, die Reproduzierbarkeit verschlechtern und zu einer minderen Produktqualität führen.
Um Veränderung des Strahlprofils eines Lasers speziell in AM-Baukammern zu erkennen, bietet Ophir zwei Messgeräte:
BeamWatch® AM bietet eine berührungslose Charakterisierung des gesamten Strahlverteilung in Echtzeit basierend auf der Rayleigh-Streuung. Die Laserleistung wird über einen integrierten, luftgekühlten thermischen Sensor gemessen. Der Lüfter arbeitet erst nachdem das BeamWatch AM aus der Baukammer genommen wurde, so dass kein Metallpulver verwirbelt wird.
Das BeamPeekTM System kombiniert eine klassische Methode der Strahlprofilmessung mit einer Kaustikmessung, indem die Bauebene in der Baukammer bewegt wird. Die Laserleistung wird auch hier mit einem integrierten thermischen Sensor gemessen. Der speziell patentierte Beamdump macht eine active Kühlung überflüssig und ist austauschbar.
Vergleichstabelle zwischen BeamPeek and the BeamWatch AM:
Nun, was ist das ideale Messinstrument für Ihre AM-Herausforderung?
Ob das BeamWatch AM oder das BeamPeek System die optimale Lösung für Sie darstellt, hängt von Ihrer Anwendung und Ihrem analytischen Ansatz ab.
Das BeamWatch AM System misst die gesamte Strahlkaustik auf einmal von der Seite, während das BeamPeek System das manuelle Verfahren der Bauebene erfordert, um Schicht für Schicht eine genaue Kaustikmessung durchführen zu können.
Insgesamt heißt das, wenn Sie den Strahl in Ihrer Anwendung gleichzeitige charakterisieren und die Fokusverschiebung in Echtzeit überwachen möchten, eignet sich Ophir BeamWatch AM besser. Sollten Sie genauere Messungen an bestimmten Schnittstellen der Strahlverteilung ermitteln wollen, ist Ophir BeamPeek für Sie das Instrument der Wahl.
Darüber hinaus benötigt das BeamWatch AM System sowohl für den Betrieb und den Schutz vor feinsten Metallpartikeln zusätzlich eine Druckluft- oder Gasspülung, während das Ophir BeamPeek System das nicht benötigt und darüber hinaus über eine austauschbare passive Strahlfalle gekühlt wird, die die Abkühlzeit zwischen den Messungen verkürzt.
Sie möchten beide System vor Ort vergleichen? Sprechen Sie uns an! Gerne vereinbart unser Salesteam einen Termin mit Ihnen.
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