もし、レーザビームプロファイラについて知っていることをすべて忘れてレーザの“写真”を撮るようにと言われたら、あなたはどうしますか?多分、カメラで写真を撮ることを考えるのではないでしょうか。実際、CCD と CMOSカメラは現在最も一般的に用いられている レーザビームプロファイラです
。
カメラセンサを利用しない解析方法に、スリットを回転させレーザビームの異なった場所で測定を行なう、いわゆるスリット式ビームプロファイラがあります。この方法も有効ですが、多少複雑です。この方法は実際に必要とされるものなのでしょうか?それともPhotonグループ(オフィール社)は意味のないものを製造しているだけなのでしょうか?
私は、各種ビームプロファイラにはそれぞれ長所と短所があり、アプリケーション別に最適なビームプロファイラを選ぶ必要があると思っています。(何がベストかわからない場合はビームプロファイラウィザードをご利用頂くか、株式会社オフィールジャパンへお問合せください。
実際、Photonのナノスキャンのようなスリットスキャン式ビームプロファイラを選択するための多くの理由があります。
- まず第一に、減衰が必要ないということです。他のほとんどのビームプロファイラでは、高出力レーザビームの測定の際はアッテネータなどを用いて減衰を行いディテクタの損傷を防ぐ必要があります。しかしスキャニングスリットの回転による測定では、ディテクタにはほんのわすかのビームしか入射しません。つまり、極めて高出力のレーザでない限り、ナノスキャンでは減衰することなくダイレクト入射でビームプロファイル測定が行えるということです。
- 減衰が不要であることもあり、ナノスキャンは35dBという広いダイナミックレンジを持ちます。
- ナノスキャンでは、ディテクタを選択することで、紫外から遠赤外(100μm以上)までの測定が可能です。
- ナノスキャンでは高繰返しパルスレーザの測定も可能です。したがって、赤外での測定では高価なカメラタイプに代わる方法として大きなメリットがあります。
- ナノスキャンでは最近、付属のソフトウェアの新しいバージョンがリリースされました。新しい GUIによりさらに優れた2D、3Dのグラフィック処理が可能となっています。詳細は、新着情報をご参照下さい。
スリットスキャン式ビームプロファイラの詳細について知りたい方には、概要説明やチュートリアルを読まれることをお奨めします。
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