セミナー開催！＠InterOpto2020会場 「非接触ビームプロファイラによる高出力レーザーのフォーカススポットおよびフォーカスシフト測定」

日　 程：　　1月30日（木）13：05～13：50

場　 所：　　東京ビッグサイト　西2ホール会場内　プレゼンテーション会場B

主　 催：  　レーザー輸入振興協会（JIAL）主催セミナー

講演名：　　「非接触ビームプロファイラによる高出力レーザーのフォーカススポットおよびフォーカスシフト　　測定」    －高出力レーザービームプロファイリングと新しい測定技術と非接触分析の仕組み

講演者：　　　マイケル・モズジェチコフ　（日本語での講演となります）

　　　　　　　　株式会社オフィールジャパン　ビジネス・デベロップメント部部長

講演概要：　高出力レーザーのビームプロファイリングと新しい測定技術、非接触レーザービームプロファイラの仕組み、レ－ザー光の特性に影響を与えることなくシステム内部を通過するビーム計測、リアルタイム計測、レーザー始動時からの焦点シフトの計測、及び、切削、溶接、積層造形などの工業生産における費用対効果、信頼性の高いレーザープロセスの管理、製造ライン向けの自動化ソリューションについて説明いたします。

費用/登録：　無料　

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　展示会場内での講演となりますので、展示会への来場登録が必要です。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
https://jcd-event.smktg.jp/public/application/add/414?lang=ja 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　                                          聴講申込みは下記からお願いいたします　　　　　　　　　　　　　　　　　　　https://unifiedsearch.jcdbizmatch.jp/nanotech2020/jp/sem/aap　　　　　                                             

皆様、お誘いあわせの上、ご参加をお待ちしております。