課題
多くのアプリケーションには、VCSEL、レーザーダイオード、LED、ファイバーレーザーなど、広く発散するビームや大きなビームが含まれます。これらのデバイスは、UV、可視、NIR の波長で動作し、顔やジェスチャーの認識、AR/VR、医療機器、自動運転車など、3D イメージングを必要とする多くのデバイスで使用されています。
これらすべてのアプリケーションで最高の性能を保証するには、ビームプロファイルの特性評価が非常に重要です。しかし、従来のビームプロファイラーの開口部は小さすぎて、ビーム全体を捉えることができませんでした。さらに、ディテクタ―の応答は入射角に大きく依存するため、発散ビームは通常のディテクタ―では正確に測定できません。
Ophir の WB-I VIS (Wide Beam Imager) によるソリューション
この問題は、350-1100 nm の範囲で、標準的なビーム プロファイラー センサーの 15° と比較して最大 70°のビームのプロファイルと発散の測定を可能にしたOphirのWB-I VIS（ワイドビームイメージャー）によって解決することができます。
これは、最大 45 mm の有効口径を備えた大型の発散ビームのサイズとパワー分布を測定するための、コンパクトで校正済みの光学システムです。フィールド条件と実験室のセットアップの両方で動作するのに十分な耐久性があります。
ビームは大型の拡散スクリーンでキャプチャされ、可変減衰器を介して CCTV レンズによってプロファイラーカメラに再結像されます。カメラは、Ophir の BeamGageソフトウェアと共に、光の強度分布の完全かつ正確なマッピングを生成します。
最近、WB-I VIS 装置が新しいバージョンに更新され、Ophir の新しい高解像度カメラ SP932U が使用されるようになりました。このカメラは、特別な BeamGage ソフトウェア機能を使用して、NIR 波長での精度を向上させると同時に、より高速なフレームレートと広いダイナミックレンジを備えています。
カメラのアップグレードに加えて、新しい WB-I VIS は虹彩絞りを使用して光強度を最適なレベルに調整します。 これは、機器の準備が整い、追加の「オンサイト」セットアップを必要としないため、フィールド テストに特に便利です。
BeamGage ソフトウェアによる 950nm での発散型 VCSELのビームプロファイルの測定、WB-I VIS を使用したビームプロファイル
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